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【展示会情報】1月17日(水)~19日(金) ネプコンジャパン2018に出展します

『第47回インターネプコンジャパン(総称ネプコンジャパン2018)』 に出展します
会期:2018年1月17日(水)~19日(金)10:00-18:00  ※19日(金)のみ17:00終了
会場:東京ビッグサイト [東1ホール/No.E9-31]

▼ご来場の際は、下記サイトより招待券をご請求頂くか、弊社営業までご連絡ください。▼
※入場料¥5,000が無料になります。
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【出展製品】

高精度計測顕微鏡『EagleScope』 EdecLinseySystem
実装部品位置精度測定(SMT)、メタルマスク開口検査(MASK)に続き、半導体チップ測定モデルを開発中
ダイシング後のウェハチップサイズ、ピッチを広視野、高解像度で測定します。
 
他、高解像度カメラVI-SAI, 円筒内面撮像ユニット、スマートロボットハンド等

 

▼▼小間位置、出展製品情報はこちら▼▼(展示会案内状)

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