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【展示会情報】12月13日(水)~15日(金) SEMICON Japan 2017に出展します

『SEMICON Japan2017』 に出展します
会期:2017年12月13日(水)~15日(金)10:00-17:00
会場:東京ビッグサイト [東1ホール/No.1813]
 
▼ご来場の際は、下記サイトより事前登録頂くか、弊社営業までご連絡ください。▼
※当日登録も可能ですが、混雑する可能性がございます。
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【出展製品】

高精度計測顕微鏡『EagleScope』

EdecLinseySystem
実装部品位置精度測定(SMT)、メタルマスク開口検査(MASK)に続き、半導体チップ測定モデルを開発中
ダイシング後のウェハチップサイズ、ピッチを広視野、高解像度で測定します。

  

▼▼小間位置、出展製品情報はこちら▼▼(展示会案内状)

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